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专业生产、研究及开发各类光学检测仪器和激光干涉仪企业

光学检测仪和激光干涉仪

Smarc-Ⅲ-PO摄像孔平面检查仪


该仪器适用于小平面在线检测

    主要特点:

1.平面参考面形精度:λ/20

2.主要测量手机面板、3D盖玻的波前畸变

3.图像更大、更清晰、自带工作台

  

  仪器规格参数表:


光源

半导体激光器 波长λ=635nm(激光器保修1.5年)

有效光束直径

φ=25mm

精度

PV优于λ/20

测量重复性

PV优于λ/50RMS优于λ/100

显示

千兆网CCD+15寸液晶显示器

尺寸

260×160×330mm

重量

6.5Kg

电源

220V 55Hz

数据分析

英特飞移相式数据处理软件







苏公网安备 32010202010164号